测试探针的制作方法

时间:2021-06-22 14:58:24来源:淘折扣  阅读:(71)收藏
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【技术领域】[0001]本实用新型涉及测试探针的结构改进。【背景技术】[0002]现有电子类......

【技术领域】

[0001]本实用新型涉及测试探针的结构改进。

【背景技术】

[0002]现有电子类产品在生产过程中均会涉及对其在接通电源情况下进行相关参数检测的工序,一般会采用测试探针来使其与电子类产品的被测试点进行接触并实现电性连接。如图1所示,是目前LED光源,如COB (chip on board)光源封装产品的一种常用的测试探针,其是采用通过金属杆I ’上连接设有一金属套2 ’,该金属套2 ’的开口和底部的金属杆I’形成的腔体内设置一探针头4’和弹簧3’,通过金属杆I’与弹簧3’、弹簧3’与探针头4’的接触的接触的方式来将加载于金属杆I’的测试电流传送到探针头4’。但经过多次使用后,由于弹簧3’的变形造成探针头4’、弹簧3’和金属杆I’三者接触不良;并且加之由于金属杆I’较宽(需至少大于该金属套2’的最外径),会遮挡光源,从而导致测试数据的不准确,甚至测试实验失败。一专利公开号CN1700020的提出一种测试探针,对于探针的强度和行程提出了改进,但是其整体结构与上述的现有测试探针结构主体类似,也存在上述的技术问题。

【实用新型内容】

[0003]因而,本实用新型针对上述不足,提出一种改进的测试探针。

[0004]为此,本实用新型采用如下技术方案进行解决:

[0005]一种测试探针,包括:

[0006]一导体的杆体,该杆体的一端连接于一套体;

[0007]一导体的套体,该套体包括一围合的壁面和一底面,该壁面远离该底面的一端形成一开口,且该底面上开设有一通孔,该壁面与该杆体的一端固定连接;

[0008]一导体的探针头,该探针头包括一支杆部和与之连接的一接触部,该探针头设置在该套体内,且该支杆部穿设于该套体的底面上的该通孔,该接触部至少有部分外露出该套体的该开口;

[0009]—导体的弹簧,该弹簧套设在该探针头的支杆部,其两端受限于该探针头的接触部和该套体的底面;

[0010]一导线,该导线的一端连接于该支杆部,该导线的另一端连接于该杆体。

[0011]本实用新型采用如上技术方案实现,可以避免因弹簧的形变而导致测试探针测试不良。

【附图说明】

[0012]1是现有技术的测试探针的剖视图;

[0013]2是本实用新型一实施例的剖视图。

【具体实施方式】

[0014]为进一步说明各实施例,本实用新型提供有附图。这些附图为本实用新型揭露内容的一部分,其主要用以说明实施例,并可配合说明书的相关描述来解释实施例的运作原理。配合参考这些内容,本领域普通技术人员应能理解其他可能的实施方式以及本实用新型的优点。图中的组件并未按比例绘制,而类似的组件符号通常用来表示类似的组件。

[0015]现结合附图和【具体实施方式】对本实用新型进一步说明。

[0016]参阅图2所示,作为本实用新型一实施例的测试探针,包括:

[0017]一导体的杆体1,该杆体I的一端连接于一套体2

[0018]一导体的套体2,该套体2包括一围合的壁面21和一底面22,该壁面21远离该底面22的一端形成一开口 211,且该底面22上开设有一通孔221,该壁面21与该杆体I的一端固定连接;

[0019]一导体的探针头3,该探针头3包括一支杆部32和与之连接的一接触部31,在该接触部31与该支杆部32连接处,该接触部31的外径大于该支杆部32的外径,即二者连接处形成一个阶面,该探针头3设置在该套体2内,且该支杆部32穿设于该套体2的底面22上的该通孔221,该接触部31至少有部分外露出该套体2的该开口 211

[0020]一导体的弹簧4,该弹簧4套设在该探针头3的支杆部32,其两端受限于该探针头3的接触部31和该套体2的底面22,从而压缩弹簧4进行蓄能;

[0021]一导线5,该导线5的一端连接于该支杆部32,该导线5的另一端连接于该杆体I

[0022]该实施的导体的杆体1、导体的套体2、导体的探针头3和导体的弹簧4均可以采用金属材质实现,具有良好导电性能和物理强度。

[0023]于该实施例优选的,该探针头3的支杆部32还形成一限制结构,用于限制该支杆部32从该套体2的底面22的通孔221脱出。该实施例具体的,该支杆部32的限制结构是由该支杆部32以“7”字型弯折形成。当然的,本领域技术人员还可以采用其他方式实现,例如在探针头3的支杆部32位于该套体2的底面22的通孔221外露部分连接一个外径大于通孔221孔径的部件,以进行限制,避免脱出。但是该实施例的支杆部32的“7”字形的设计也是用于与导线5的弧形设计相配合的,起到更加良好的其他技术效果,将在下面详细说明。

[0024]于该实施例优选的,该导线5的两端是通过焊接而分别连接设置在该支杆部32和该杆体I ;且该导线5是弯成具有一个弧形结构后进行连接的。

[0025]于该实施例优选的,为了避免导线老化而影响导电性,该导线5上还包覆一层绝缘层。该导线5采用导电性能优良的材质实现,如采用硅橡胶电线(一种铜芯软线)。迎合该实施例的支杆部32的“7”字形的设计,将导线5弯成具有一个弧形结构,再分别与支杆部32和杆体I焊接在一起。这样既可让探针头3比较灵活的活动。该导线5的弧形设计能有效的保证在探针头3在大幅度活动情况下,导线5整体摆动幅度小,进而减少导线5因金属疲劳而导致导线5损坏的问题。

[0026]实施例的测试探针在未进行测试时,由于弹簧4的作用,探针头3露在套体2外面。测试时,该杆体I下压,探针头3与被测试对象(COB)的电极接触,此时探针头3缩进套体2(缩进去的程度与如COB板等测试对象的厚度有关)。由于弹簧4的形变作用,迫使探针头3与被测试对象(COB)的电极紧紧接触,从而减少接触电阻,导线5将探针头3与杆体I直接连接,避免现有技术的测试探针中因弹簧形变,造成电接触不良的现象。

[0027]综上可见,该实施例与现有技术的测试探针相比具体如下优点:

[0028]一、改良前的测试探针,电流是经过金属杆I’流到弹簧3’再到探针头4 ;而改良后的该实施例,电流是由杆体I通过导线5直接传送到探针头3,避免因弹簧形变而导致测试不良缺陷;

[0029]二、改良前的测试探针的金属杆I’是较宽的杆体,需至少大于该金属套2’的最外径;而改良后的该实施例,杆体I只是与该套体2的壁面21进行连接固定,可以采用较细的金属杆,从而不影响一些产品的测试,如测试LED光源;

[0030]三、改良前的测试探针,其金属套2’与金属杆I’需要底部焊接,衔接不牢固,容易损坏,也不容易更换弹簧3 ;而改良后的该实施例则无这些不足。

[0031]由此可见,该实施例克服了原先的测试探针因弹簧形变造成金属杆与探针头接触不良影响测试的缺陷,具有使用寿命长,减少了接触电阻的优点;且该实施例的杆体可以采用圆柱形的细金属杆,对于如LED光源的测试中,能减少对测试灯具所发出的光的遮挡,从而减少测试误差的优点。

[0032]尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本实用新型,但所属领域的技术人员应该明白,在不脱离所附权利要求书所限定的本实用新型的精神和范围内,在形式上和细节上可以对本实用新型做出各种变化,均为本实用新型的保护范围。

【主权项】

1.一种测试探针,其特征在于,包括: 一导体的杆体,该杆体的一端连接于一套体; 一导体的套体,该套体包括一围合的壁面和一底面,该壁面远离该底面的一端形成一开口,且该底面上开设有一通孔,该壁面与该杆体的一端固定连接; 一导体的探针头,该探针头包括一支杆部和与之连接的一接触部,该探针头设置在该套体内,且该支杆部穿设于该套体的底面上的该通孔,该接触部至少有部分外露出该套体的该开口 一导体的弹簧,该弹簧套设在该探针头的支杆部,其两端受限于该探针头的接触部和该套体的底面; 一导线,该导线的一端连接于该支杆部,该导线的另一端连接于该杆体。2.根据权利要求1所述的测试探针,其特征在于:该探针头的支杆部还形成一限制结构,用于限制该支杆部从该套体的底面的通孔脱出。3.根据权利要求2所述的测试探针,其特征在于:该支杆部的限制结构是由该支杆部以“7”字型弯折形成。4.根据权利要求1所述的测试探针,其特征在于:该导线的两端是通过焊接而分别连接设置在该支杆部和该杆体。5.根据权利要求1所述的测试探针,其特征在于:该导线是弯成具有一个弧形结构后进行连接的。6.根据权利要求1所述的测试探针,其特征在于:该导线上还包覆一层绝缘层。

【专利摘要】本实用新型涉及测试探针的结构改进。本实用新型提出一种测试探针,包括:一导体的杆体,该杆体的一端连接于一套体;一导体的套体,该套体包括一围合的壁面和一底面,该壁面远离该底面的一端形成一开口,且该底面上开设有一通孔,该壁面与该杆体的一端固定连接;一导体的探针头,该探针头包括一支杆部和与之连接的一接触部,该探针头设置在该套体内,且该支杆部穿设于该套体的底面上的该通孔,该接触部至少有部分外露出该套体的该开口;一导体的弹簧,该弹簧套设在该探针头的支杆部,其两端受限于该探针头的接触部和该套体的底面;一导线,该导线的一端连接于该支杆部,该导线的另一端连接于该杆体。本实用新型用于对电子类产品进行测试。

 

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